- Sections
- H - électricité
- H01J - Tubes à décharge électrique ou lampes à décharge électrique
- H01J 37/28 - Microscopes électroniques ou ioniques; Tubes à diffraction d'électrons ou d'ions avec faisceaux de balayage
Détention brevets de la classe H01J 37/28
Brevets de cette classe: 2769
Historique des publications depuis 10 ans
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224
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191
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270
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278
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258
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67
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| 2015 | 2016 | 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 | 2024 |
Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Hitachi High-Tech Corporation | 4424 |
554 |
| ASML Netherlands B.V. | 6816 |
306 |
| Hitachi High-Technologies Corporation | 2034 |
253 |
| FEI Company | 851 |
202 |
| Carl Zeiss Microscopy GmbH | 1146 |
105 |
| Applied Materials Israel, Ltd. | 549 |
97 |
| JEOL Ltd. | 556 |
90 |
| KLA-Tencor Corporation | 2574 |
85 |
| KLA Corporation | 1223 |
58 |
| Carl Zeiss MultiSEM GmbH | 85 |
55 |
| Hitachi High-Tech Science Corporation | 326 |
45 |
| NuFlare Technology, Inc. | 770 |
41 |
| Carl Zeiss SMT GmbH | 2646 |
40 |
| ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH | 149 |
40 |
| Hermes Microvision Incorporated B.V. | 129 |
38 |
| Hitachi, Ltd. | 16452 |
28 |
| Applied Materials, Inc. | 16587 |
26 |
| Fractilia, LLC | 23 |
19 |
| Samsung Electronics Co., Ltd. | 131630 |
18 |
| Technische Universiteit Delft | 646 |
18 |
| Autres propriétaires | 651 |